CW32L010系列（liè）产品是（shì）基于 eFlash 的单芯片低功耗（hào）微控制器，集（jí）成了主频高达 48MHz 的 ARM® Cortex®-M0+ 内核、高速嵌入式存（cún）储器（多至（zhì） 64K 字节 FLASH 和多至 4K 字节 SRAM）以及（jí）一系列全面的增强型外设和（hé） I/O 口。

内部框图

所有型（xíng）号（hào）都提供全套的（de）通信接口（二路 UART、一路（lù） SPI 和一路（lù） I2C）、12 位高速 ADC、四组通用和基（jī）本定时器、一组低功耗定时器（qì）以（yǐ）及（jí）一组高级控（kòng）制 PWM 定时器。

CW32L010 可（kě）以在（zài） -40℃到 85℃的（de）温度范围内（nèi）工作（zuò），供（gòng）电电压宽达 1.62V ~ 5.5V。支持（chí） Sleep 和 DeepSleep两种低功耗（hào）工作模（mó）式CW32L010 可以（yǐ）在 -40℃到 85℃的温度范围内（nèi）工作，供电电压宽（kuān）达 1.62V ~ 5.5V。支持（chí） Sleep 和DeepSleep两种低（dī）功耗（hào）工作模（mó）式。

确保高访问（wèn）速度：可确保指令的快速执行，满足实时性（xìng）要求高的（de）应用场景。

易于升级迭（dié）代：在同等成本下，扩大存储容（róng）量，为用（yòng）户提供同级最宽（kuān）裕（yù）的程（chéng）序（xù）和非易失存储空间（jiān），使得（dé）产品在面临（lín）功能升（shēng）级或（huò）迭代时，能够更加灵活（huó）地进行软件更（gèng）新和扩展。

减少EEPROM依赖：通过提（tí）供充足（zú）的非（fēi）易失性存储（chǔ），减少了对外部（bù）EEPROM的依赖，降（jiàng）低了系统成本和复杂（zá）性。

耐用性（xìng）更高：Flash擦写寿（shòu）命高达（dá）10,000次，符合标（biāo）杆要求，确保了产品的长期稳定（dìng）运行。

2、黑客级代码安全防护

在微控制器（qì）（MCU）领域，保护（hù）用户的代码和知识产（chǎn）权至关重要。CW32L010系列MCU，以其创新的安（ān）全特性，为用户提供了一（yī）个坚不（bú）可摧的代码保护解决方（fāng）案。

尽管目前大多数MCU都支持多种安全等级，阻止通过SWD/ISP接口读取Flash内容。但（dàn）通过下载间谍程（chéng）序，用挟（jiā）持内核（hé）的方式对Flash指（zhǐ）令区做数据访问一般都被允许。

CW32L010系列产（chǎn）品可以阻止这个入侵，我们允许用户（hù）划定一块指（zhǐ）令存储区域，只能通过指令（lìng）总线取指（zhǐ）令执行（háng），不允许通过数据总线（xiàn）访问（wèn）数据（jù）。在这个区域内，即使攻击者尝试通过下载（zǎi）间谍（dié）程序挟持内核，也无（wú）法（fǎ）访（fǎng）问这块被（bèi）保护的存储（chǔ）区域（yù）。用（yòng）户可以（yǐ）将包含（hán）敏感算法和关键功（gōng）能（néng）的代码库存储在该区域，确保这些核心资（zī）产只能被调用，无（wú）法被复制或篡改。

超低功耗工作（zuò）模式非常多，一般用户较关注待机电流（常温/高温）、全速运行电（diàn）流等几个主要指标。

CW32L010采用特（tè）别（bié）工艺制程，将待机电流控制在0.3uA，高（gāo）温（wēn）待机电流是竞品平均水平的1/4~1/8。

5、RTC补偿精度是0.060ppm，支持亚秒（miǎo）级读数

CW32L010在（zài）设计时对RTC补偿（cháng）机制进行了（le）优（yōu）化，可（kě）选择32，128，256秒为一（yī）个补（bǔ）偿周期（qī），最精（jīng）细（xì）的补（bǔ）偿精度可达到0.060ppm，支持亚秒级读数。

6、全面升级的低功耗串口，支持LIN、RS485硬件使能

低功耗串口（kǒu）接收数据可灵活配置（zhì）接口电（diàn）平，可产生关（guān）键字中断和（hé）帧超时中断，支持LIN、RS485硬（yìng）件（jiàn）使能、TXD和RXD互换（huàn）及（jí）内部（bù）回（huí）环功能（néng）、LSB/MSB硬件转换。

7、85℃ Latch Up测试成（chéng）绩（jì）优异（yì），闩锁门限测（cè）试成（chéng）绩高（gāo）达±600mA

在（zài）MCU的设计和应用中，静电（diàn）放电（ESD）的防护（hù）能（néng）力是衡量产品可靠性的重（chóng）要指标之一。其中高温（wēn）Latch Up（闩锁）测试（shì）可以说明（míng）一定（dìng）问题，CW32L010在高温Latch Up（闩锁）测试（shì）中表（biǎo）现出色，闩锁门限测试成绩高达±600mA，远高于行业一般水平，相（xiàng）比竞品（pǐn）一（yī）般（bān）水平为3~6倍。强大的（de）ESD防护能够保（bǎo）护MCU内（nèi）部数（shù）据不受静电（diàn）放（fàng）电的影响以及在（zài）各种环境下（xià）的长（zhǎng）期（qī）稳定运行。

8、16路ADC输入2M采（cǎi）样率，采样保持时（shí）间可独立配置

9、内部时钟源特（tè）性（xìng）无惧挑剔

CW32L010系列产品提供 QFN20、TSSOP20、SOP16 三（sān）种不（bú）同的封装形式，不同封装的产品（pǐn）所能（néng）实现（xiàn）的（de）功能有所不同，具（jù）体情况如下表所示：

 CW32L010 家族（zú）产品功能列表